辉达新品GB300开发遇挑战 郭明錤:AOS存在严重过热问题
时间:2024-12-17 14:45 来源:IT商业科技网 作者:chuntao 点击:次
天风国际知名分析师郭明錤周一爆料,AI芯片龙头英伟达在为下一代AI服务器GB300/B300开发测试DrMOS技术时,发现AOS负责的 5x5 DrMOS存在严重过热问题,并指若英伟达无法快速解决该问题,恐将影响系统量产进度,并改变市场对AOS订单的预期。 郭明錤在周一出具的最新投资报告指出,目前英伟达GB300/B300开发所测试的DrMOS,包括AOS的5x5和MPS的5x6.根据其最新供应链调查显示,AOS的DrMOS出现严重过热问题,郭明錤还列出4点分析与投资人分享,分别如下。 第一,英伟达优先测试AOS 5x5 DrMOS的原因有二,分别为「增强对MPS的议价力以降低成本」与「AOS拥有更丰富的5x5 DrMOS设计与生产经验」。 第二,除DrMOS本身设计造成严重过热问题外,问题也可能源于DrMOS以外的设计不足(如系统散热管理)。 第三,若问题未解决,为避免GB300/B300系统量产延期,英伟达可能会积极引入新5x5 DrMOS供应商(如要求MPS提供测试用的样品),或更积极测试MPS的5x6 DrMOS。 郭明錤认为,无论英伟达采何种做法,可能都会在短期内影响市场共识对AOS未来订单的高度乐观预期。 第四,虽5x6 DrMOS成本较高,但具更佳散热效能,若5x5过热问题无法改善,改用5x6的机率将上升并有利于MPS。 最后,郭明錤也做出结论,称目前GB300/B300离量产仍有一段时间,此事件不代表AOS最终无法受益于GB300/B300. 然而,为避免重蹈GB200/B200延期覆辙,无论是英伟达积极寻找新5x5 DrMOS供应商,或改积极测试MPS 5x6 DrMOS,短期内可能都会影响市场对AOS订单趋势的信心。 (责任编辑:admin) |